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产品特性：
1、采用单扣/双扣式旋钮结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
2、双头探针或单头焊接式探针结构，保证探针和PCB板接触良好；
3、整体采用高性能工程材料制作，可跟据客户要求、满足24H/48H/72H老化测试，测试电流最高可达10A，电压220V/380V，可满足：湿度90%，及军工三温:-45摄氏度/常温/+150摄氏度的温差等恶劣老化测试环境。
4、最小可做到的测试间距：双头探针:Pitch=0.25mm，单头焊接:Pitch=0.5mm
用途：集成电路产品老化验证测试
可根据用户要求定做各种阵列的Socket
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深圳圆融达微电子技术有限公司
YRD Microelectronics Technology Co., Ltd
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