产品特性:
1、采用单扣/双扣式旋钮结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
2、双头探针或单头焊接式探针结构,保证探针和PCB板接触良好;
3、整体采用高性能工程材料制作,可跟据客户要求、满足24H/48H/72H老化测试,测试电流最高可达10A,电压220V/380V,可满足:湿度90%,及军工三温:-45摄氏度/常温/+150摄氏度的温差等恶劣老化测试环境。
4、最小可做到的测试间距:双头探针:Pitch=0.25mm,单头焊接:Pitch=0.5mm
用途:集成电路产品老化验证测试
可根据用户要求定做各种阵列的Socket
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深圳圆融达微电子技术有限公司
YRD Microelectronics Technology Co., Ltd
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